嵌入式开发者社区

标题: EEPROM读写测试出错 [打印本页]

作者: 51DSP2016 时间: 2017-7-31 22:53
标题: EEPROM读写测试出错
1、使用TL138F开发板测试EEPROM读、写操作，按照光盘资料中提供的 “eeprom_rw”程序进行测试，结果写入字符到EEPROM应该是没有问题的，但是read读取EEPROM中的数据信息时，总是报错“error: Connection timed out”。请问这是什么问题？2、使用光盘文件中的 app/i2c/i2c_test.c 程序进行测试，首先write写入数据，然后read读取数据；但是测试结果是 read读取数据是没有数据输出显示。不知道是没有写入成功，还是什么原因，就是read没有数据。
谢谢。

作者: 伊撒斯 时间: 2017-8-2 15:09
您好，这边测试，读写是正常的，请问您那边是否重新进行了交叉编译呢？也有可能是那个地方出错了。请您直接使用，我们光盘资料里面的，bin文件夹的可执行文件去测试，排查一下问题。
[attach]2650[/attach]

作者: 51DSP2016 时间: 2017-8-3 15:13

伊撒斯发表于 2017-8-2 15:09) f7 M5 n% j8 n; L7 c$ [. T+ g+ N
您好，这边测试，读写是正常的，请问您那边是否重新进行了交叉编译呢？也有可能是那个地方出错了。请您直接 ...

就是直接使用光盘资料中提供的可执行文件，也出现错误；那就不是程序的问题了，硬件问题怎么测试。

作者: 伊撒斯 时间: 2017-8-4 11:03

51DSP2016 发表于 2017-8-3 15:131 @ u7 w2 o* D; Z7 y& ]/ h
就是直接使用光盘资料中提供的可执行文件，也出现错误；那就不是程序的问题了，硬件问题怎么测试。 ...

请问您那边，是否是您自己做的底板呢？

欢迎光临嵌入式开发者社区 (https://www.51ele.net/)