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标题: EEPROM读写测试出错 [打印本页]

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作者: 51DSP2016    时间: 2017-7-31 22:53
标题: EEPROM读写测试出错
1、使用TL138F开发板测试EEPROM读、写操作，按照光盘资料中提供的 “eeprom_rw”程序进行测试，结果写入字符到EEPROM应该是没有问题的，但是read读取EEPROM中的数据信息时，总是报错“error: Connection timed out”。请问这是什么问题？2、使用光盘文件中的 app/i2c/i2c_test.c 程序进行测试，首先write写入数据，然后read读取数据；但是测试结果是   read读取数据是没有数据输出显示。不知道是没有写入成功，还是什么原因，就是read没有数据。
2 S' K8 F# C0 V/ q/ R谢谢。
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作者: 伊撒斯    时间: 2017-8-2 15:09
您好，这边测试，读写是正常的，请问您那边是否重新进行了交叉编译呢？也有可能是那个地方出错了。请您直接使用，我们光盘资料里面的，bin文件夹的可执行文件去测试，排查一下问题。
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作者: 51DSP2016    时间: 2017-8-3 15:13

伊撒斯 发表于 2017-8-2 15:09
* ]' c8 a8 G  r, n4 G您好，这边测试，读写是正常的，请问您那边是否重新进行了交叉编译呢？也有可能是那个地方出错了。请您直接 ...

& t$ M1 Z- d8 j  \7 D* ~6 ]# n! d就是直接使用光盘资料中提供的可执行文件，也出现错误；那就不是程序的问题了，硬件问题怎么测试。

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作者: 伊撒斯    时间: 2017-8-4 11:03

51DSP2016 发表于 2017-8-3 15:13
8 k& W; @8 z2 I0 Z就是直接使用光盘资料中提供的可执行文件，也出现错误；那就不是程序的问题了，硬件问题怎么测试。 ...

! n# x' z7 G' X9 s6 e( x0 M0 I1 i请问您那边，是否是您自己做的底板呢？

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