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标题: EEPROM读写测试出错 [打印本页]
作者: 51DSP2016    时间: 2017-7-31 22:53
标题: EEPROM读写测试出错
1、使用TL138F开发板测试EEPROM读、写操作，按照光盘资料中提供的 “eeprom_rw”程序进行测试，结果写入字符到EEPROM应该是没有问题的，但是read读取EEPROM中的数据信息时，总是报错“error: Connection timed out”。请问这是什么问题？2、使用光盘文件中的 app/i2c/i2c_test.c 程序进行测试，首先write写入数据，然后read读取数据；但是测试结果是   read读取数据是没有数据输出显示。不知道是没有写入成功，还是什么原因，就是read没有数据。
8 T( s' I, ~+ f# c6 j2 m谢谢。1 T: z9 W# h# i2 @
作者: 伊撒斯    时间: 2017-8-2 15:09
您好，这边测试，读写是正常的，请问您那边是否重新进行了交叉编译呢？也有可能是那个地方出错了。请您直接使用，我们光盘资料里面的，bin文件夹的可执行文件去测试，排查一下问题。
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作者: 51DSP2016    时间: 2017-8-3 15:13
伊撒斯 发表于 2017-8-2 15:09
+ A1 o2 Z  F( o# b; w2 F$ [. _您好，这边测试，读写是正常的，请问您那边是否重新进行了交叉编译呢？也有可能是那个地方出错了。请您直接 ...
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就是直接使用光盘资料中提供的可执行文件，也出现错误；那就不是程序的问题了，硬件问题怎么测试。
作者: 伊撒斯    时间: 2017-8-4 11:03
51DSP2016 发表于 2017-8-3 15:13% Q1 |7 P, X$ g2 s
就是直接使用光盘资料中提供的可执行文件，也出现错误；那就不是程序的问题了，硬件问题怎么测试。 ...
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请问您那边，是否是您自己做的底板呢？



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