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标题: EEPROM读写测试出错 [打印本页]

作者: 51DSP2016    时间: 2017-7-31 22:53
标题: EEPROM读写测试出错
1、使用TL138F开发板测试EEPROM读、写操作,按照光盘资料中提供的 “eeprom_rw”程序进行测试,结果写入字符到EEPROM应该是没有问题的,但是read读取EEPROM中的数据信息时,总是报错“error: Connection timed out”。请问这是什么问题?2、使用光盘文件中的 app/i2c/i2c_test.c 程序进行测试,首先write写入数据,然后read读取数据;但是测试结果是   read读取数据是没有数据输出显示。不知道是没有写入成功,还是什么原因,就是read没有数据。
; Q% w% e/ ~7 H, B+ a, C% ?谢谢。
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作者: 伊撒斯    时间: 2017-8-2 15:09
您好,这边测试,读写是正常的,请问您那边是否重新进行了交叉编译呢?也有可能是那个地方出错了。请您直接使用,我们光盘资料里面的,bin文件夹的可执行文件去测试,排查一下问题。% |$ P7 T, P2 ?  P  T
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作者: 51DSP2016    时间: 2017-8-3 15:13
伊撒斯 发表于 2017-8-2 15:09
* g( Y* a& l: |: q您好,这边测试,读写是正常的,请问您那边是否重新进行了交叉编译呢?也有可能是那个地方出错了。请您直接 ...
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就是直接使用光盘资料中提供的可执行文件,也出现错误;那就不是程序的问题了,硬件问题怎么测试。
作者: 伊撒斯    时间: 2017-8-4 11:03
51DSP2016 发表于 2017-8-3 15:13
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3 _; n7 ^/ [- h- S! v3 ^4 N请问您那边,是否是您自己做的底板呢?




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